Pracownia zajmuje się badaniami strukturalnymi materiałów w podczerwieni (IR). Na wyposażeniu znajdują się cztery fourierowskie spektrometry (FTIR – fourier transform infrared) umożliwiające dokonywanie pomiarów w całym zakresie dalekiej (FIR), środkowej (MIR) oraz bliskiej (NIR) podczerwieni.
Pracownia analiz rentgenowskich ma na wyposażeniu dwa dyfraktometry rentgenowskie, na których realizowane są pomiary XRD, GID, XRR, SAXS i in., oraz spektrometr WDXRF.
Mikroskop sił atomowych umożliwia obrazowanie topografii powierzchni próbki z rozdzielczością nanometryczną, określenie właściwości powierzchni takich jak szorstkość, wielkość ziaren, układów czy agregatów, czy rozmiary porów.